擊穿 puncture固體介質(zhì)中發(fā)生的破壞性放電。
   注1：不確定度是正的，給出時(shí)不帶符號(hào)。
破壞性放電電壓值的統(tǒng)計(jì)特性
破壞性放電電壓是隨機(jī)變化的，通常須進(jìn)行大量的試驗(yàn)才能獲得統(tǒng)計(jì)意義的電壓值。本標(biāo)準(zhǔn)中給出的試驗(yàn)程序，一般是基于統(tǒng)計(jì)考慮而確定的。試驗(yàn)結(jié)果的統(tǒng)計(jì)評(píng)價(jià)信息見(jiàn)附錄A。
火花放電 sparkover氣體或液體媒介中發(fā)生的破壞性放電。
GB311.1  絕緣配合  第1部分：定義、原則和規(guī)則；
試品的耐受概率 withstand probability of a test objectq
   注1：容差不同于測(cè)量不確定度。
   GB/T16927.3  高電壓試驗(yàn)技術(shù)  第3部分：現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的定義及要求；
試品的破壞性放電概率 disruptive discharge probability of a test objectP
   GB/T16896.1  高壓沖擊測(cè)量?jī)x器和軟件  第1部分：對(duì)儀器的要求；
測(cè)量不確定度 uncertainty of a measurement
   施加一次給定波形的具有確定的預(yù)期電壓數(shù)值的電壓后試品上不引起破壞放電的概率。如果破壞性放電概率為p，則耐受概率q為（1-p）。
   在本部分中，所有不確定度規(guī)定為95%置信水平下的值。
   耐受試驗(yàn)中，表征試品絕緣性能的規(guī)定的預(yù)期電壓值。
   注：固體介質(zhì)中發(fā)生破壞性放電會(huì)導(dǎo)致絕緣強(qiáng)度的永義喪失；而在液體或氣體介質(zhì)中絕緣只是暫時(shí)喪失強(qiáng)度。
   GB/T4585  交流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗(yàn)；
c）沖擊電壓絕緣試驗(yàn)；
試品的破壞性放電電壓值 disruptive discharge voltage value of a test object
   GB/T16896.2  高壓沖擊測(cè)量?jī)x器和軟件  第2部分：軟件的要求；
容差和不確定度容差 tolerance
   施加一次給定波形的具有確定的預(yù)期電壓數(shù)值的電壓后試品上引起破壞性放電的概率。參數(shù)P可用百分?jǐn)?shù)或適當(dāng)?shù)男?shù)來(lái)表示。
 注：也可能出現(xiàn)非自持破壞性放電，此時(shí)試品被火花放電或電弧短暫橋接。這種情況下，試品上的電壓會(huì)短暫地降到零或非常低的值。根據(jù)試驗(yàn)回路和試品的特性，可能出現(xiàn)絕緣強(qiáng)度的恢復(fù)，甚至允許試驗(yàn)電壓達(dá)到更高的數(shù)值。除非有關(guān)技術(shù)委員會(huì)另有規(guī)定，否則這種情況應(yīng)視作破壞性放電。
   如果沒(méi)有破壞性放電發(fā)生，應(yīng)該能獲得的特性。一旦使用預(yù)期特性，必須加以注明。試驗(yàn)電壓的實(shí)際特性 actual characteristics of a test voltage
 與電氣作用下絕緣發(fā)生故障有關(guān)的現(xiàn)象。試驗(yàn)時(shí)絕緣完全被放電橋接，并使電極間的電壓實(shí)際降到零。適用于固體、液體和氣體介質(zhì)以及它們的復(fù)合介質(zhì)中的破壞性放電。有時(shí)也稱(chēng)“電氣擊穿”。
試品的耐受電壓 withstand voltage of a test object
b）交流電壓絕緣試驗(yàn)；
   破壞性放電試驗(yàn)中，表征絕緣性能的規(guī)定的預(yù)期電壓值。
   GB/T7354  局部放電測(cè)量；
注3：對(duì)Um大于800kV的設(shè)備，若要滿足某些規(guī)定的程序，則有可能無(wú)法滿足容差和不確定度。
   GB/T22707  直流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗(yàn)。下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。放電特性破壞性放電 disruptive discharge
試驗(yàn)電壓 value of the test voltage見(jiàn)本部分的相關(guān)條款。
閃絡(luò) flashover氣體或液體媒介中沿介質(zhì)表面發(fā)生的破壞性放電。
   試驗(yàn)電壓的實(shí)際特性是指試驗(yàn)期間試品端子之間出現(xiàn)的特性。
   除非另有規(guī)定，耐受電壓是指標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下的值（見(jiàn)4.3.1）。僅適用于外絕緣。
   測(cè)量值與規(guī)定值之間的允許差值。
注1：有關(guān)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)見(jiàn)GB/T16927.3。
   注2：試品試驗(yàn)通過(guò)（或失敗）的結(jié)論是根據(jù)測(cè)量值確定的，并不考慮測(cè)量不確定度的影響。
試品的確保破壞性放電電壓 assured disruptive discharge voltage of a test object
   發(fā)生在中間電極之間或?qū)w之間的放電，此時(shí)試驗(yàn)電壓并不跌落至零。除非有關(guān)技術(shù)委員會(huì)另有規(guī)定，否則，這種現(xiàn)象不能視作破壞性放電。
   GB/T11022  高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的共同技術(shù)要求；
試驗(yàn)電壓特性的預(yù)期特性 prospective characteristics of a test voltage
   與測(cè)量結(jié)果有關(guān)的一個(gè)參數(shù)，它表征受到測(cè)量一定程度影響的數(shù)值的分散性。
本部分適用于z高電壓Um為1kV以上設(shè)備的下列試驗(yàn)：
   有些非破壞性放電稱(chēng)為“局部放電”，參見(jiàn)GB/T7354。
非破壞性放電 non-disruptive tlischarge
   本部分相關(guān)條款規(guī)定的各種試驗(yàn)中引起破壞性放電的試驗(yàn)電壓值。
d）以上電壓的聯(lián)合和合成試驗(yàn)。
   注2：不應(yīng)與試驗(yàn)規(guī)定值或參數(shù)的容差相混淆。
注2：為獲得可再現(xiàn)且有效的結(jié)果，可以要求采用替代試驗(yàn)程序。由有關(guān)技術(shù)委員會(huì)選擇合適的試驗(yàn)程序。
   GB/T16927.2  高電壓試驗(yàn)技術(shù)  第2部分：測(cè)量系統(tǒng)；
a）直流電壓絕緣試驗(yàn)；