北京機(jī)械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所測量控制設(shè)備及系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室/機(jī)械工業(yè)測量控制設(shè)備及網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量檢測中心，依據(jù)WW/T 0099—2020《館藏文物預(yù)防性保護(hù)裝備 環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)對(duì)文物保護(hù)裝備、環(huán)境監(jiān)測終端設(shè)備等電工電子設(shè)備、儀器儀表進(jìn)行環(huán)境可靠性、電磁兼容性、外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）測試服務(wù)，出具CNAS報(bào)告、CMA報(bào)告。

WW/T 0099—2020《館藏文物預(yù)防性保護(hù)裝備 環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了多項(xiàng)環(huán)境適應(yīng)性測試項(xiàng)目，旨在評(píng)估裝備在不同環(huán)境條件下的性能穩(wěn)定性。以下是該標(biāo)準(zhǔn)涵蓋的主要測試項(xiàng)目及簡要說明：

1. 低溫試驗(yàn)

• 目的：驗(yàn)證裝備在低溫環(huán)境下的工作可靠性。
• 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫》。

2. 高溫試驗(yàn)

• 目的：測試裝備在高溫環(huán)境中的耐受能力。
• 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B: 高溫》。

3. 恒定濕熱試驗(yàn)

• 目的：評(píng)估裝備在高濕度恒定環(huán)境下的適應(yīng)性。
• 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.3—2006《恒定濕熱試驗(yàn)》。

4. 溫度變化試驗(yàn)

• 目的：模擬裝備在溫度快速變化條件下的性能穩(wěn)定性。

5. 振動(dòng)試驗(yàn)

• 目的：檢測裝備在振動(dòng)環(huán)境中的機(jī)械強(qiáng)度和功能完整性。
• 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.10—2008《振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)》。

6. 沖擊、跌落及傾倒試驗(yàn)

• 目的：評(píng)估裝備在受到機(jī)械沖擊、跌落或傾倒時(shí)的防護(hù)能力。
• 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：引用GB/T 2423.5、GB/T 2423.7、GB/T 2423.8等。

7. IP外殼防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)

• 目的：測試裝備外殼對(duì)固體異物和液體侵入的防護(hù)能力。
• 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4208—2017《外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）》。

8. 電磁兼容性相關(guān)試驗(yàn)

靜電放電抗擾度試驗(yàn)（依據(jù)GB/T 17626.2—2018）；

射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)（依據(jù)GB/T 17626.3—2016）；

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)（依據(jù)GB/T 17626.4—2018）；

浪涌（沖擊）試驗(yàn)（依據(jù)GB/T 17626.5—2019）；

射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)（依據(jù)GB/T 17626.6—2017）；

工頻磁場抗擾試驗(yàn)（依據(jù)GB/T 17626.8—2006）。

9. 其他條件試驗(yàn)

• 試驗(yàn)條件：包括供源條件（如電源波動(dòng)）、負(fù)載條件（裝備運(yùn)行時(shí)的負(fù)載狀態(tài)）、安裝位置要求等。

總結(jié)

該標(biāo)準(zhǔn)通過上述測試項(xiàng)目全面覆蓋了裝備在極端溫度、濕度、機(jī)械振動(dòng)、電磁干擾等環(huán)境下的適應(yīng)性要求，確保館藏文物保護(hù)裝備的穩(wěn)定性和可靠性。

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實(shí)驗(yàn)室地址：北京市西城區(qū)廣安門外大街甲397號(hào)

張工，139-1126-0297

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